Cross sectional OM images of CM247LC sample fabricated under various VED conditions in (a) As-built, (b) HIP treated state
CM247LC 시편의 VED 조건에 따른 Optical Microscope (OM) 단면 분석:
(a) As-built 상태, (b) HIP 처리가 진행된 상태
Analysis of the unclosed solidification cracks and healed crack on HIP treated CM247LC samples fabricated under (a), (c) low VED and (b), (d) high VED, and (e) EDX line scanning result
CM247LC 시편의 HIP처리 진행 후 제거된 크랙과 남아있는 크랙의 분석: (a), (c) 낮은 VED 영역 그리고 (b),
(d) 높은 VED 영역, 그리고 (e) EDX line scanning 결과